老化試驗箱對半導體材料的測試原理

老（lǎo）化試驗箱對半導體材（cái）料的測試原理

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老化試驗箱對半導體材料的測試原理是為什麽呢？青青草网站儀器老化試驗箱HD-704一般可做二種測（cè）試：老化與耐黃變，老化：本機可促進加硫橡膠之劣化，以計算加熱前後拉力及伸長之變化率，一般認為在70 ℃下測試一天，理論上（shàng）相當於（yú）暴露在大氣中6個月的時間（jiān）。耐黃：本機是模擬（nǐ）大（dà）氣環境中，受陽光紫外線照射，外觀變化一般認為在50℃下測（cè）試9小時，理論上相當於暴露在大氣中6個月的（de）時間。

在老化階段進（jìn）行半導體測試之所以有意義有（yǒu）多種（zhǒng）原因，在探討這些原（yuán）因之前（qián），我們（men）首先要明確“測試（shì）”的真正（zhèng）含義。

一般半導體測（cè）試要用到昂貴（guì）的高速自動測試（shì）設備，在一個（gè）電性能條件可調（diào）的（de）測試台上對半導體作測試（shì）。它還可以在標稱性能範圍之外（wài）進（jìn）行（háng），完成功能（邏輯）和參（cān）數（速度）方麵的測試，像（xiàng）信號升降時間之類（lèi）的參數可到皮秒（miǎo）級。也許是因為（wéi）可控測試環境隻有一個器件（jiàn）作為電性負載，所以信（xìn）號（hào）轉換（huàn）很快，能（néng）夠進行真實的器件響應（yīng）參數測量。

但在老化（huà）的時候，為提（tí）高產品（pǐn）的產量是能夠同時對盡可能多的器（qì）件作老（lǎo）化。為（wéi）滿足這一要求，可把多個器件（jiàn）裝在一個大的印刷線路板上，這個板稱（chēng）為老化板，它上麵的所（suǒ）有器件都並聯（lián）在一起。大型老（lǎo）化板的物理電氣特性不能和隻測試一個器件的小測試（shì）台（tái）相比，因為老化（huà）板上（shàng）的容（róng）性和感性負載會給速度測試帶來（lái）麻煩。所（suǒ）以我們通常無法用老（lǎo）化進（jìn）行所有功能測（cè）試。不過在某些情況下，運用特殊（shū）的係統設計技術在（zài）老化環境下進行速度測試也是可能的。

老化係統中的“測試”可以指任何方麵（miàn），從（cóng）對每一器件每（měi）一管腳進（jìn）行基本信（xìn）號測試，到對老化板上（shàng）的所有器件作幾乎100%功能測試，這一切均視器件複雜性及所選用的老化測（cè）試係統而（ér）定。可以說對任何器件進行100%功能測試都是可以做得到的，但是這樣采用的方法可能會減少老化（huà）板上的器件密度，從而增加整體成本並降低（dī）產（chǎn）量。

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