GB/T 2423 電工電子產品環境試驗標（biāo）準的組成部分

GB/T 2423.1-2008 電（diàn）工電子產品（pǐn）環境試驗 第2部分：試（shì）驗（yàn）方法 試驗A：低溫（IEC 60068-2-1：2007，IDT）低溫（wēn）試驗箱

　　GB/T 2423.3-2006 電工電（diàn）子產品環境試驗 第（dì）2部分：試驗方法 試驗Cab：恒（héng）定濕熱試驗（IEC 60068-2-78：2001，IDT）恒溫恒（héng）濕試驗（yàn）箱

　　GB/T 2423.4-2008 電工電子產品（pǐn）環境（jìng）試驗（yàn） 第（dì）2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環）（IEC 60068-2-30：2005，IDT）高低溫交變濕熱試驗箱

　　GB/T 2423.5-1995 電工電子產品環境試驗（yàn） 第2部分：試驗方法 試驗（yàn）Ea和導則：衝擊（jī）（idt IEC 60068-2-27:1987）冷熱衝擊箱

　　GB/T 2423.6-1995 電工電子產品環境試驗（yàn） 第2部分：試驗（yàn）方法 試驗Eb和導（dǎo）則：碰撞（zhuàng）（idt IEC 60068-2-29:1987）

　　GB/T 2423.7-1995 電工電（diàn）子產（chǎn）品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗（yàn）Ec和導（dǎo）則：傾跌與翻倒（主要用（yòng）於設備型樣品）（idt IEC 60068-2-31:1982）

　　GB/T 2423.8-1995 電工電子產品環境試（shì）驗 第2部（bù）分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落（idt IEC 60068-2-32:1990）跌落試驗機

　　GB/T 2423.10-2008 電工電子產品環境試驗 第（dì）2部分：試（shì）驗（yàn）方法 試驗Fc：振動（正弦）（IEC 60068-2-6:1995，IDT）振動（dòng）試驗機

　　GB/T 2423.15-2008 電工電子產（chǎn）品環境試（shì）驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga和導則：穩態加速（sù）度（dù）（IEC 60068-2-7:1986，IDT）

　　GB/T 2423.16-2008 電工（gōng）電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導則：長黴（IEC 60068-2-10:2005，IDT）

　　GB/T 2423.17-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗（yàn）方法（fǎ） 試驗（yàn）Ka：鹽霧（IEC 60068-2-11:1981，IDT）鹽霧機

　　GB/T 2423.18-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗（yàn）方法 試（shì）驗（yàn）Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）（idt IEC 60068-2-52:1996）鹽霧耐腐蝕試驗（yàn）箱

　　GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分（fèn）：試驗方法 試驗（yàn）M：低氣壓試（shì）驗方法（IEC 60068-2-13:1983，IDT）

　　GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化（huà）（IEC 60068-2-14:1984，IDT）

　　GB/T 2423.23-1995 電工電子產品環境（jìng）試驗 試驗（yàn）Q：密封